В рамках основного научного направления 02В «Нанотехнологии и наноматериалы» преподаватели кафедры выполняют поисковые, фундаментальные и прикладные научные исследования по следующим проблемам:

Синтез, исследование состава, структуры и свойств новых видов наноматериалов.
Синтез гибридных, гетероструктурных и нанокомпозитных материалов с заданным набором функциональных свойств.
Разработка технологических процессов и оборудования для производства наноматериалов и изделий на их основе.
Разработка новых направлений использования наноматериалов и покрытий на их основе.
Разработка методов утилизации техногенных отходов, в том числе — с использованием наноматериалов.

Результаты исследований оформляются в виде отчетов и публикаций в зарубежной, центральной и местной печати, докладываются на международных и всероссийских научных и научно-технических конференциях; демонстрируются на отраслевых выставках.

Основное внимание уделяется проведению исследований в направлениях создания новых материалов, связанных с производством источников тока и накопителей энергии, катализаторов и фотокатализаторов, высокоселективных сорбентов, наноструктурированных полимер-матричных и металл-матричных композитов, материалов для электроники и наноэлектроники, медицины и имплантологии, антифрикционных материалов и смазочных композиций.

Техническое обеспечение

Лаборатории кафедры оснащены самым современным научно-исследовательским и технологическим оборудованием. За последние 2 года приобретено оборудования на сумму нескольких десятков млн. руб., например, на кафедре имеется следующее оборудование:

Дифрактометр ARL X’TRA

Назначение:
определение фазового состава пробы;
количественное определение известных фаз в смеси;
кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов.

Настольный сканирующий
электронный микроскоп «Aspex EXlorer»

Назначение: исследование металлических и диэлектрических образцов методом детектирования обратно рассеянных электронов и вторичных электронов, а также характеристического рентгеновского излучения.

Прибор синхронного термического анализа STA 449 F3 Jupiter

Назначение: измерение изменения массы и тепловых эффектов в диапазоне температур -150...1400°С.

Кроме того, имеется комплект оборудования для пробоподготовки, анализатор размера частиц Analysette 22 MicroTec PLUS, комплект приборов для электрохимических исследований (потенциостаты, импедансметры и пр.) и многое другое.